Počet záznamů: 1
Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology
- 1.0366031 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology.
Measurement Science and Technology. Roč. 22, č. 9 (2011), 094030:1-8. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.494, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201133
Počet záznamů: 1