Počet záznamů: 1
In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires
- 1.0365167 - FZÚ 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Malard, B. - Pilch, Jan - Šittner, Petr - Delville, R. - Curfs, C.
In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires.
Solid State Phenomena. 172-174, č. 6 (2011), s. 1243-1248. ISSN 1012-0394
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA200100627; GA MŠMT(CZ) LA10010
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: recovery process * electropulse treatment * in-situ analysis * superelasticity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0200473
Počet záznamů: 1