Počet záznamů: 1  

Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment

  1. 1.
    0361427 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Lindgren, S. - Affolder, A.A. - Allport, P.P. - Bates, R. - Betancourt, C. - Böhm, Jan - Brown, H. - Buttar, C. - Carter, J. R. - Casse, G. - Mikeštíková, Marcela … celkem 73 autorů
    Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment.
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 636, č. 1 (2011), "S111"-"S117". ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
    Grant CEP: GA MŠMT LA08032
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100502
    Klíčová slova: p-bulk silicon * surface damage * charge collection * punch-through voltage
    Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
    Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
    http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2010.04.094

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0198739
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.