Počet záznamů: 1  

Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM

  1. 1.
    0352416 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM.
    Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I3.7: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
    [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * crystallinic structure * slow backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191924
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.