Počet záznamů: 1
Interferometer controlled positioning for nanometrology
- 1.0352199 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P.
Interferometer controlled positioning for nanometrology.
2nd International Conference NANOCON 2010. Ostrava: Tanger s.r.o, 2010, s. 287-291. ISBN 978-80-87294-19-2.
[NANOCON 2010. International Conference /2./. Olomouc (CZ), 12.10.2010-14.10.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: nanometrology * interferometry * local probe microscopy * nanopositioning
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191768
Počet záznamů: 1