Počet záznamů: 1
Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes
- 1.0335270 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, P. - Schauer, Petr - Kuřitka, I. - Nešpůrek, Stanislav
Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 3: 383-384. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: cathodoluminescence * electron beam degradation * poly[methyl(phenyl)silane] * PMPSi * silicon polymers
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/55161.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179779
Počet záznamů: 1