Počet záznamů: 1
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes
- 1.0333617 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes.
Journal of Microscopy. Roč. 236, č. 3 (2009), s. 203-210. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection of electrons * magnetic lenses * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.612, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178559
Počet záznamů: 1