Počet záznamů: 1
Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions
- 1.0133977 - FZU-D 20020265 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 196, - (2002), s. 61-67. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: highly charged ion-induced electron emission * angle impact effect * Be-Cu
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.158, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031924
Počet záznamů: 1