Počet záznamů: 1  

Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions

  1. 1.
    0133977 - FZU-D 20020265 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
    Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions.
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 196, - (2002), s. 61-67. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
    Klíčová slova: highly charged ion-induced electron emission * angle impact effect * Be-Cu
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.158, rok: 2002

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031924
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.