Surface and grain-boundary segregation studied by quantitative AES and XPS

0329993 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Hofmann, S. - Lejček, Pavel
Surface and grain-boundary segregation studied by quantitative AES and XPS.
[Segregace příměsí na hranicích zrn a volných površích studovaná kvantitativní AES a XPS.]
International Journal of Materials Research. Roč. 100, č. 9 (2009), s. 1167-1172. ISSN 1862-5282. E-ISSN 2195-8556
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: interfacial segregation * AES * XPS * hermodynamic state functions
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.862, rok: 2009

Applied surface and interface analysis methods such as Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy are particularly well suited to studying intergranular segregation. Advantages and disadvantages of different approaches are discussed.

Aplikovaná analýza povrchů a rozhraní metodami, jako je spektroskopie Augerových elektronů či rentgenová spektroskopie fotoelektronů, jsou diskutovány v souvislosti se studiem segregace příměsí na rozhraních. Jsou diskutovány předchozí přednosti a nedostatky jednotlivých přístupů ke kvantitativní analýze.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0175875