Počet záznamů: 1  

Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I

  1. 1.
    0488135 - FZÚ 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Kohn, V.G. - Khikhlukha, Danila
    Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I.
    Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. Roč. 72, May (2016), s. 349-356. ISSN 2053-2733. E-ISSN 2053-2733
    Grant CEP: GA MŠMT EF15_008/0000162; GA MŠMT ED1.1.00/02.0061
    Grant ostatní: ELI Beamlines(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162; ELI Beamlines(XE) CZ.1.05/1.1.00/02.0061
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: X-ray diffraction * silicon crystal * six-beam diffraction * section topography * computer simulations
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 5.725, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0282752
     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.