Počet záznamů: 1  

Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy

  1. 1.
    0467245 - ÚPT 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Walker, C. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy.
    Scanning. Roč. 38, č. 6 (2016), s. 802-818. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Monte Carlo modeling * scanned probe * computer simulation * electron-solid interactions * surface analysis
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.345, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265392
     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.