Počet záznamů: 1  

Scanning transmission microscopy at very low energies

  1. 1.
    0460206 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Scanning transmission microscopy at very low energies.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 40-41. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260338
     
     
Počet záznamů: 1