Počet záznamů: 1  

Impact of crystallisation processes on depth profile formation in sol-gel PbZr.sub.0·52./sub.Ti.sub.0·48./sub.O.sub.3./sub. thin films

  1. 1.
    0392014 - FZÚ 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Aulika, I. - Mergen, S. - Bencan, A. - Zhang, Q. - Dejneka, Alexandr - Kosec, M. - Kundzins, K. - Demarchi, D. - Civera, P.
    Impact of crystallisation processes on depth profile formation in sol-gel PbZr0·52Ti0·48O3 thin films.
    Advances in Applied Ceramics. Roč. 112, č. 1 (2013), s. 53-58. ISSN 1743-6753. E-ISSN 1743-6761
    Grant CEP: GA TA ČR TA01010517; GA ČR GAP108/12/1941
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: compositional and optical gradien * PZT * spectroscopic ellipsometry * crystallisation proces * sol-gel * XRD * thin films * depth profile * spectroscopic elipsometry
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.107, rok: 2013
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0220997
     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.