Počet záznamů: 1
Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field
- 1.0385193 - ÚPT 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Pokorná, Zuzana
Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field.
Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756. E-ISSN 1996-1944
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.247, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214527
Počet záznamů: 1