Počet záznamů: 1
Scanning Very Low Energy Electron Microscopy
- 1.0368827 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Scanning Very Low Energy Electron Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 238-243. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * grain contrast * transmitted electrons * dopant contrast * thin films
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203060
Počet záznamů: 1