Počet záznamů: 1
Unconventional Imaging with Backscattered Electrons
- 1.0367773 - ÚPT 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Unconventional Imaging with Backscattered Electrons.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 900-901. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * low energies * grain contrast * dopant contrast * internal stress
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.007, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202327
Počet záznamů: 1