Počet záznamů: 1
Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology
- 1.0352196 - ÚPT 2011 RIV CA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír
Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology.
Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 525: 1-5. ISBN 978-0-9867183-0-4.
[Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa (CA), 04.08.2010-06.08.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy * interferometer controlled positioning
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191766
Počet záznamů: 1