Počet záznamů: 1
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
- 1.0352188 - ÚPT 2011 RIV CA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikel, Břetislav - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology.
Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 277: 1-8. ISBN 978-0-9867183-0-4.
[Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa (CA), 04.08.2010-06.08.2010]
Grant CEP: GA MPO 2A-1TP1/127; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GP102/09/P293; GA ČR GP102/09/P630
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: DFB laser diode * nanometrology * stabilization * tuneability
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191760
Počet záznamů: 1