Počet záznamů: 1
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope
- 1.0350413 - ÚFE 2011 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Kučera, Ondřej
Electrical Analogy to an Atomic Force Microscope.
Radioengineering. Roč. 19, č. 1 (2010), s. 168-171. ISSN 1210-2512
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: atomic force microscopy
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Impakt faktor: 0.503, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190426
Počet záznamů: 1