Počet záznamů: 1
Role of the tip induced local anodic oxidation in the conductive atomic force microscopy of mixed phase silicon thin films
- 1.0347762 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Vetushka, Aliaksi - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Rezek, Bohuslav - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Role of the tip induced local anodic oxidation in the conductive atomic force microscopy of mixed phase silicon thin films.
Physica Status Solidi C. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 728-731. ISSN 1862-6351
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: local anodic oxidation (LAO) * conductive atomic force microscopy (C-AFM)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www3.interscience.wiley.com/journal/123289759/abstract
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0188465
Počet záznamů: 1