Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films

0320025 - ÚMCH 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Knotek, P. - Tichý, Ladislav
Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films.
[Charakterizace fotoindukovaných změn v amorfních filmech Ge-As-S pomocí AFM a AFAM.]
Thin Solid Films. Roč. 517, č. 5 (2009), s. 1837-1840. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: amorphous materials
Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
Impakt faktor: 1.727, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0169011