Počet záznamů: 1
Characterization of hydrogenated silicon thin films and diode structures with integrated germanium nanoparticles
SYS 0496537 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103220919.2 017 $2 DOI 100 $a 20181116d m y slo 03 ba 101 $a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Characterization of hydrogenated silicon thin films and diode structures with integrated germanium nanoparticles 215 $a 5 s. $c E 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0494122 $1 010 $a 9788087294819 $1 200 1 $a Nanocon 2017 : conference proceedings : 9th International Conference on Nanomaterials - Research & Application $v S. 123-127 $1 210 $a Ostrava $c Tanger Ltd. $d 2018 610 $a PECVD 610 $a a-Si:H diode structures 610 $a Ge 610 $a nanoparticles 700 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0103253 $a Fajgar $b Radek $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $p UCHP-M $w Department of Laser Chemistry $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0103307 $a Kupčík $b Jaroslav $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $p UCHP-M $w Department of Laser Chemistry $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100485 $a Remeš $b Zdeněk $i Optické materiály $j Optical Materials $p FZU-D $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100534 $a Stuchlíková $b The-Ha $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1