Počet záznamů: 1  

Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I

  1. SYS0488135
    LBL
      
    01000a^^22220027750^450
    005
      
    20240103215811.0
    014
      
    $a 84965057155 $2 SCOPUS
    014
      
    $a 000375147400009 $2 WOS
    017
    70
    $a 10.1107/S2053273316001959 $2 DOI
    100
      
    $a 20180314d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a GB
    200
    1-
    $a Computer simulations of X-ray six-beam diffraction in a perfect silicon crystal. I
    215
      
    $a 8 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0460976 $1 011 $a 2053-2733 $e 2053-2733 $1 200 1 $a Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances $v Roč. 72, May (2016), s. 349-356 $1 210 $c Oxford Blackwell
    608
      
    $a Article
    610
      
    $a X-ray diffraction
    610
      
    $a silicon crystal
    610
      
    $a six-beam diffraction
    610
      
    $a section topography
    610
      
    $a computer simulations
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0359299 $4 070 $a Kohn $b V.G. $y RU
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0351164 $a Khikhlukha $b Danila $i ELI Beamlines $j ELI Beamlines $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.