Počet záznamů: 1
Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy
SYS 0469174 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103213401.8 014 $a 85003454609 $2 SCOPUS 014 $a 000389373900001 $2 WOS 017 $a 10.1038/srep37859 $2 DOI 100 $a 20170116d m y slo 03 ba 101 $a eng 102 $a GB 200 1-
$a Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy 215 $a 7 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0386594 $1 011 $a 2045-2322 $e 2045-2322 $1 200 1 $a Scientific Reports $v Roč. 6, Dec (2016), s. 1-7 $1 210 $c Nature Publishing Group 610 $a solar cells 610 $a surfaces 610 $a interfaces and thin films 610 $a two-dimensional materials 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0341172 $a Paviet-Salomon $b B. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $y CZ $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0341173 $a Geissbühler $b J. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0341174 $a Tomasi $b A. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0281939 $a Despeisse $b M. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0341175 $a De Wolf $b S. $y SA 701 -1
$3 cav_un_auth*0280016 $a Ballif $b C. $y CH 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1