Počet záznamů: 1
Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy
SYS 0467245 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103213145.9 014 $a 84977104035 $2 SCOPUS 014 $a 000390267000038 $2 WOS 017 $a 10.1002/sca.21330 $2 DOI 100 $a 20161215d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a US 200 1-
$a Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy 215 $a 17 s. $c P 300 $a chybná afiliace 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257580 $1 011 $a 0161-0457 $e 1932-8745 $1 200 1 $a Scanning $v Roč. 38, č. 6 (2016), s. 802-818 610 $a Monte Carlo modeling 610 $a scanned probe 610 $a computer simulation 610 $a electron-solid interactions 610 $a surface analysis 700 -1
$3 cav_un_auth*0054362 $a Walker $b C. $y GB 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1