Počet záznamů: 1
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons
SYS 0367280 LBL 01941^^^^^2200325^^^450 005 20240103195840.9 100 $a 20111121d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a DE 200 1-
$a Mapping of dopants in silicon by injection of electrons 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0367285 $1 010 $a 978-3-00-033910-3 $1 200 1 $a MC 2011 - Microscopy Conference Kiel $v IM7.P198:1-2 $1 210 $a Kiel $c DGE $d 2011 610 0-
$a dopant 610 0-
$a silicon 610 0-
$a scanning electron microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016438 $a Mikulík $b P. $y CZ $4 070
Počet záznamů: 1