Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
SYS 0366182 LBL 01829^^^^^2200361^^^450 005 20240103195734.2 014 $a 000276339800017 $2 WOS 017 $a 10.1002/pssa.200982890 $2 DOI 100 $a 20111103d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates 215 $a 4 s. 300 $a 2015 Oprava UTWoS 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0043977 $1 011 $a 1862-6300 $e 1862-6319 $1 200 1 $a Physica Status Solidi A $e Applications and Materials Science $v Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581 $1 210 $c Wiley 610 0-
$a solar cell 610 0-
$a silicon 610 0-
$a spectroscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0225122 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Holovský $b Jakub $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0248769 $4 070 $a Dagkaldiran $b U. $y DE 701 -1
$3 cav_un_auth*0100485 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Remeš $b Zdeněk $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0206015 $i Optické materiály $j Optical Materials $4 070 $a Purkrt $b Adam $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258087 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Ižák $b Tibor $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100468 $i Optické materiály $j Optical Materials $4 070 $a Poruba $b Aleš $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100605 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Vaněček $b Milan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1