Počet záznamů: 1
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution
SYS 0347763 LBL 02499^^^^^2200361^^^450 005 20240103193921.8 017 $a 10.1002/pssc.200982832 $2 DOI 100 $a 20101001d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0307376 $1 011 $a 1862-6351 $1 200 1 $a Physica Status Solidi C $e Current Topics in Solid State Physics $v Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707 610 0-
$a Raman 610 0-
$a atomic force microscopy 610 0-
$a microcrystalline silicon 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
Počet záznamů: 1