Počet záznamů: 1  

Electrophoresis deposition of metal nanoparticles with reverse micelles onto InP

  1. SYS0341170
    LBL
      
    01942^^^^^2200361^^^450
    005
      
    20240103193324.1
    014
      
    $a 000270671600019 $2 WOS
    017
      
    $a 10.3139/146.110178 $2 DOI
    100
      
    $a 20100317d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a DE
    200
    1-
    $a Electrophoresis deposition of metal nanoparticles with reverse micelles onto InP
    215
      
    $a 5 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0044027 $1 011 $a 1862-5282 $e 2195-8556 $1 200 1 $a International Journal of Materials Research $v Roč. 100, č. 9 (2009), s. 1234-1238 $1 210 $c Walter de Gruyter
    610
    0-
    $a semiconductor junctions
    610
    0-
    $a nanostructures
    610
    0-
    $a semiconductor devices
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101770 $a Žďánský $b Karel $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101767 $a Zavadil $b Jiří $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $w Synthesis and characterization of nanomaterials $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101680 $a Kacerovský $b Pavel $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0218328 $a Lorinčík $b Jan $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $w Synthesis and characterization of nanomaterials $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101757 $a Vaniš $b Jan $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $w Synthesis and characterization of nanomaterials $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101691 $a Kostka $b František $i 004 $j Diagnostics of Materials for Electronics and Optoelectronics $p URE-Y $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0261125 $a Černohorský $b O. $y CZ $x X $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0017401 $a Fojtík $b A. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0261126 $a Reboun $b J. $y CZ $x X $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0100173 $a Čermák $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.