Počet záznamů: 1
Decomposition of mixed phase silicon Raman spectra
SYS 0339516 LBL 02173^^^^^2200325^^^450 005 20240103193144.9 100 $a 20100224d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Decomposition of mixed phase silicon Raman spectra 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0339515 $1 010 $a 978-1-60511-126-1 $1 200 1 $a Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology — 2009 $v S. 15-20 $1 210 $a Warrendale, PA $c Materials Research Society $d 2009 $1 225 $a Material Research Society Symposium Proceedings $v 1153 $1 702 1 $a Flewitt $b A. $4 340 $1 702 1 $a Wang $b Q. $4 340 $1 702 1 $a Hou $b J. $4 340 $1 702 1 $a Uchikoga $b S. $4 340 $1 702 1 $a Nathan $b A. $4 340 610 0-
$a Raman spectroscopy 610 0-
$a silicon thin films 610 0-
$a photovoltaics 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www.mrs.org/s_mrs/sec_subscribe.asp?TrackID=FVBMVC5NCPA3LSSGPWPGMZURP3UMFBBT&CID=18437&DID=243429
Počet záznamů: 1