Počet záznamů: 1
Electron beam induced current measurement on a specimen biased in a cathode lens
SYS 0335265 LBL 02443^^^^^2200337^^^450 005 20240103192705.1 100 $a 20100319d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a AT 200 1-
$a Electron beam induced current measurement on a specimen biased in a cathode lens 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0335255 $1 010 $a 978-3-85125-062-6 $1 200 1 $a MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy $v Vol. 1: 211-212 $1 210 $a Graz $c Verlag der Technischen Universität $d 2009 610 0-
$a elektron beam induced current 610 0-
$a SEM 610 0-
$a very low energy electrons 610 0-
$a cathode lens 610 0-
$a specimen bias 700 -1
$3 cav_un_auth*0101553 $a Horáček $b Miroslav $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w New Technologies $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101643 $a Zobač $b Martin $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w New Technologies $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101636 $a Vlček $b Ivan $i S2: Speciální technologie $j S2: Special technologies $p UPT-D $w New Technologies $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/77645.pdf
Počet záznamů: 1