Počet záznamů: 1
Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films
SYS 0328517 LBL 01646^^^^^2200349^^^450 005 20240103192005.8 014 $a 000266319100013 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.polymer.2009.03.031 $2 DOI 100 $a 20090824d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a GB 200 1-
$a Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257481 $1 011 $a 0032-3861 $e 1873-2291 $1 200 1 $a Polymer $v Roč. 50, č. 11 (2009), s. 2445-2450 $1 210 $c Elsevier 541 1-
$a Stanovení středních neelastických volných drah elektronů v tenkých vrstvách polymetylfenyl silylenu $z cze 610 0-
$a polymer physics 610 0-
$a poly[methyl(phenyl)silylene] 610 0-
$a inelastic mean free path 700 -1
$3 cav_un_auth*0100630 $a Zemek $b Josef $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0237279 $a Houdková $b Jana $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100265 $a Jiříček $b Petr $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016276 $a Jablonski $b A. $y PL $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0107489 $a Jurka $b Vlastimil $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100334 $a Kub $b Jiří $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1