Počet záznamů: 1
Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System
SYS 0205377 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20210803160812.2 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System 215 $a 15 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257580 $1 011 $a 0161-0457 $e 1932-8745 $1 200 1 $a Scanning $v Roč. 23, č. 1 (2001), s. 36-50 610 1-
$a scanning electron microscopy 610 1-
$a specimen charging 610 1-
$a nonconductive specimens 700 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101639 $a Zadražil $b Martin $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 4-
$u mailto:ludek@isibrno.cz
Počet záznamů: 1