Počet záznamů: 1  

Surface stoichiometry and depth profile of Ti.sub.x./sub.-Cu.sub.y./sub.N.sub.z./sub. thin films deposited by magnetron sputtering

  1. 1.
    Mukhopadhyay, A.K., Roy, A., Bhattacharjee, G., Das, S.C., Majumdar, A., Wulff, H., Hippler, R. Surface stoichiometry and depth profile of Tix-CuyNz thin films deposited by magnetron sputtering. Materials. 2021, 14(12), 3191. E-ISSN 1996-1944. Dostupné z: doi: 10.3390/ma14123191.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.