Počet záznamů: 1
About the information depth of backscattered electron imaging
- 1.PIŇOS, J., MIKMEKOVÁ, Š., FRANK, L. About the information depth of backscattered electron imaging. Journal of Microscopy. 2017, 266(3), 335-342. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818. Dostupné z: doi: 10.1111/jmi.12542
Počet záznamů: 1