Počet záznamů: 1
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy
- 1.HRABINA, J., LAZAR, J., ČÍP, O., KLAPETEK, P. Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy. In: Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. Aachen: Shaker Verlag, 2011, s. 17-20. ISBN 978-3-8440-0058-0.
Počet záznamů: 1