Počet záznamů: 1
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons
- 1.HOVORKA, M., KONVALINA, I., FRANK, L., MIKULÍK, P. Mapping of dopants in silicon by injection of electrons. In: MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM7.P198:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
Počet záznamů: 1