Počet záznamů: 1  

Limits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources

  1. 1.
    KRÁSA, J., LÁSKA, L., ROHLENA, K., VELYHAN, A., CZARNECKA, A., PARYS, P., RYC, L., WOLOWSKI, J. Limits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources. Radiation Effects and Defects in Solids. 2010, 165(6-10), 441-450. ISSN 1042-0150. E-ISSN 1029-4953. Dostupné z: doi: 10.1080/10420151003718402
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.