Počet záznamů: 1
Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2
- 1.POU, P., JELÍNEK, P., PÉREZ, R. Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM. In: MORITA, S., GIESSIBL, F.J., WIESENDANGER, R., eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. Berlin: Springer, 2009, s. 227-248. Nanoscience and Technology. ISBN 978-3-642-01494-9. Dostupné z: doi: 10.1007/978-3-642-01495-6_11
Počet záznamů: 1