Počet záznamů: 1  

Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser

  1. 1.
    CIHELKA, J., JUHA, L., CHALUPSKÝ, J., ROSMEJ, F.B., RENNER, O., SAKSL, K., HÁJKOVÁ, V., VYŠÍN, L., GALTIER, E., SCHOTT, R., KHORSAND, A.R., RILEY, D., DZELZAINIS, T., NELSON, A., LEE, R. W., HEIMANN, P., NAGLER, B., VINKO, S., WARK, J., WHITCHER, T., TOLEIKIS, S., TSCHENTSCHER, T., FÄUSTLIN, R., WABNITZ, H., BAJT, S., CHAPMAN, H., KRZYWINSKI, J., SOBIERAJSKI, R., KLINGER, D., JUREK, M., PELKA, J., HAU-RIEGE, S., LONDON, R.A., KUBA, J., STOJANOVIC, N., SOKOLOWSKI-TINTEN, K., GLEESON, A.J., STÖRMER, M., ANDREASSON, J., HAJDU, J., TIMNEANU, N. Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.