Počet záznamů: 1
Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser
- 1.CIHELKA, J., JUHA, L., CHALUPSKÝ, J., ROSMEJ, F.B., RENNER, O., SAKSL, K., HÁJKOVÁ, V., VYŠÍN, L., GALTIER, E., SCHOTT, R., KHORSAND, A.R., RILEY, D., DZELZAINIS, T., NELSON, A., LEE, R. W., HEIMANN, P., NAGLER, B., VINKO, S., WARK, J., WHITCHER, T., TOLEIKIS, S., TSCHENTSCHER, T., FÄUSTLIN, R., WABNITZ, H., BAJT, S., CHAPMAN, H., KRZYWINSKI, J., SOBIERAJSKI, R., KLINGER, D., JUREK, M., PELKA, J., HAU-RIEGE, S., LONDON, R.A., KUBA, J., STOJANOVIC, N., SOKOLOWSKI-TINTEN, K., GLEESON, A.J., STÖRMER, M., ANDREASSON, J., HAJDU, J., TIMNEANU, N. Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser. In: JUHA, L., BAJT, S., SOBIERAJSKI, R., eds. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009, 73610P/1-73610P/10. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x. Dostupné z: http://dx.doi.org/10.1117/12.822766
Počet záznamů: 1