Počet záznamů: 1  

Novel instrumentation for interferometric nanoscale comparator

  1. 1.
    ČÍŽEK, M., BUCHTA, Z., MIKEL, B., LAZAR, J., ČÍP, O. Novel instrumentation for interferometric nanoscale comparator. In: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VI. (Proceedings of SPIE Vol. 7389). Bellingham: SPIE, 2009, 73982Y: 1-7. ISBN 978-0-8194-7672-2. ISSN 0277-786X. Dostupné z: doi: 10.1117/12.827515
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.