Lu.sub.3./sub.Al.sub.5./sub.O.sub.12./sub.-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors

0337539 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Nikl, Martin - Touš, J. - Mareš, Jiří A. - Průša, Petr - Mihóková, Eva - Blažek, K. - Vedda, A. - Zorenko, Y. - Gorbenko, V. - Babin, V.
Lu₃Al₅O₁₂-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors.
[Lu₃Al₅O₁₂ materiály pro 2D scintilační detektory s vysokým rozlišením.]
Non-Intrusive Inspection Technologies II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Blackburn, B.), 731008/1-731008/10. Proceedings of SPIE, 7310. ISBN 9780819475763. ISSN 0277-786x.
[Defense, Security, and Sensing 2009. Orlando (US), 13.04.2009-17.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100802
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: thin scintillator films * 2D imaging * Ce-doped Lu₃Al₅O₁₂(LuAG) * liquid phase epitaxy growth * thermoluminescence
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://dx.doi.org/10.1117/12.818125

About 20μm thick Ce-doped Lu3Al5O12 thin films grown by Liquid Phase Epitaxy and thin plates of similar thickness prepared by mechanical cutting and polishing from Czochralski grown crystals are used in 2D imaging experiment down to μm resolution.

Okolo 20μm tenké Ce-dotované vrstvy Lu3Al5O12 připravené metodou epitaxe z kapalné fáze a tenké destičky podobné tlouštky připravené řezáním a optickým leštěním z krystalů vypěstovaných metodou Czochralského jsou používány pro 2D-zobrazování s rozlišením v oblasti μm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181510