Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM

0322208 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Sorbello, F. - Hughes, G.M. - Lejček, Pavel - Heard, P.J. - Flewitt, P.E.J.
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM.
[Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování.]
Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010414
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: FEG-STEM * Fe-3%Si * Thin foils * focused ion beam
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.067, rok: 2009

The grain boundary triple junction has been extracted from the tri-crystal and examined in high-resolution aberration-corrected FEG-STEM instruments. An in situ focused ion beam lift-out technique has been combined with an additional precision ion-polishing stage to reproducibly provide thin-foil specimens suitable for high-resolution EELS and EDX analysis.

Trojný styk hranic zrn byl vypreparován z trikrystalu a vyšetřován ve vysokorozlišovacím FEG-STEM zařízení vybaveném korekcí na aberaci. Technika in situ odprašování fokusovaným iontovým svazkem v kombinaci s následným dokonalým leštěním poskytla vzorky ve tvaru tenkých folií vhodné EELS a EDX analýzu s vysokým rozlišením.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170530