Počet záznamů: 1  

Contact system of solid state surface mapping

  1. 1.
    0356357 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hiklová, Helena - Havelková, Martina - Chmelíčková, Hana - Lapšanská, Hana
    Contact system of solid state surface mapping.
    Experimental Stress Analysis 2010. Olomouc: Palacky University, 2010 - (Šmíd, P.; Horváth, P.; Hrabovský, M.), s. 89-93. ISBN 978-80-244-2533-7.
    [International Scientific Conference Experimental Stress Analysis 2010 /48./. Velké Losiny (CZ), 31.05.2010-03.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701; GA MŠMT(CZ) 1M06002
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: contact sensing * contact profilometer * 3D imaging of solid surfaces
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://ean2010.upol.cz/site_cs/

    The advantages of contact solid state surface mapping are reminded in this paper. Some possibilities are demonstrated by several examples. These examples include measuring of laser beam treated silicon surface and mapping of laser cuts in metal sheets.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194899

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.