Počet záznamů: 1  

Al.sub.2./sub.O.sub.3./sub. and Pt atomic layer deposition for surface modification of NiTi shape memory films

  1. 1.
    SYSNO ASEP0538662
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevAl2O3 and Pt atomic layer deposition for surface modification of NiTi shape memory films
    Tvůrce(i) Vokoun, David (FZU-D) RID, ORCID
    Klimša, Ladislav (FZU-D) ORCID
    Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
    Duchoň, Jan (FZU-D) ORCID, RID
    Racek, Jan (FZU-D) RID, ORCID
    Drahokoupil, Jan (FZU-D) RID, ORCID
    Kopeček, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Yu, Y.-S. (TW)
    Koothan, N. (TW)
    Kei, C.C. (TW)
    Celkový počet autorů10
    Číslo článku746
    Zdroj.dok.Coatings. - : MDPI
    Roč. 10, č. 8 (2020), s. 1-14
    Poč.str.14 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovaNiTi alloy ; atomic layer deposition ; thin film ; Pt nanoparticles
    Vědní obor RIVJG - Hutnictví, kovové materiály
    Obor OECDMaterials engineering
    CEPEF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOpen access
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000565534100001
    EID SCOPUS85089684494
    DOI10.3390/coatings10080746
    AnotacePt coatings on NiTi films can add some useful properties, e.g., they may improve the NiTi anticorrosion and thermomechanical characteristics or activate surface properties beneficial for a specific application. Pt coatings prepared via atomic layer deposition (ALD) may help reduce cost due to the nanometric thickness. No authors have reported preparation of Pt ALD coatings on NiTi films, perhaps due to the challenge of the concurrent NiTi film oxidation during the Pt ALD process. In the present study, Al2O3 and Pt ALD coatings were applied to NiTi thin films. The ALD coating properties were studied using electron and atomic force microscopies and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Potential structural changes of NiTi due to the ALD process were evaluated using electron microscopy and X-ray diffraction. The presented ALD process resulted in controllable preparation of Pt nanoparticles on ultrathin Al2O3 layer and a change of the transformation temperatures of the NiTi films
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0316416
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.