Počet záznamů: 1
Antenna-like effect induced by surface defects upon ultrashort laser nanostructuring of silicon
- 1.
SYSNO ASEP 0522398 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve SCOPUS Název Antenna-like effect induced by surface defects upon ultrashort laser nanostructuring of silicon Tvůrce(i) Liberatore, Chiara (FZU-D)
Hrabovský, Jan (FZU-D) ORCID
Mirza, M. Inam (FZU-D) ORCID
Bulgakov, Alexander V. (FZU-D) ORCID
Bulgakova, Nadezhda M. (FZU-D) ORCID, RIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. MM Science Journal. - : MM publishing - ISSN 1803-1269
Roč. 2019, December (2019), s. 3594-3597Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova ultrashort laser pulses ; silicon ; surface defects ; antenna-like effect ; light scattering ; periodic nanostructures Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Optics (including laser optics and quantum optics) CEP EF15_003/0000445 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EF15_006/0000674 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Open access Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 EID SCOPUS 85076606316 DOI https://doi.org/10.17973/MMSJ.2019_12_2019105 Anotace Silicon is one of the most used materials in nanostructure research and in a wide range of high-technological applications spanning from the fine chemical industry to medicine and to semiconductor electronics. The processes underlying laser-induced nanostructuring of Si surfaces are still not fully understood. In particular, it is not completely clear how individual surface defects contribute to generation of ordered structures. In this contribution, we report on the influence of random defects, which are present on silicon surfaces, on the formation of periodic surface structures by laser irradiation with femto- and picosecond pulses. A thorough analysis of the results leads to the conclusion that the surface defects act as antenna-like elements directing radiation along the sample surface and determining the location, directionality and quality of structuring. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2020 Elektronická adresa http://hdl.handle.net/11104/0306897
Počet záznamů: 1