Počet záznamů: 1  

Surface profilometry by digital holography

  1. 1.
    SYSNO ASEP0499413
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevSurface profilometry by digital holography
    Tvůrce(i) Psota, Pavel (UFP-V) RID, ORCID
    Lédl, Vít (UFP-V) RID
    Kaván, František (UFP-V)
    Matoušek, O. (CZ)
    Mokrý, P. (CZ)
    Celkový počet autorů5
    Zdroj.dok.IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation. - New York : IEEE, 2017 - ISSN 1946-0759 - ISBN 978-1-5090-6505-9
    Rozsah strans. 1-5
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Akce22nd IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation
    Datum konání12.09.2017 - 15.09.2017
    Místo konáníLimassol
    ZeměCY - Kypr
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaSurface profilometry ; Digital holography ; Frequency scanning ; Absolute measurement
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDElectrical and electronic engineering
    CEPGA16-11965S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaUFP-V - RVO:61389021
    UT WOS000427812000183
    EID SCOPUS85044456628
    DOI https://doi.org/10.1109/ETFA.2017.8247748
    AnotaceThis paper presents newly developed method for measurement of surface topography based on frequency scanning digital holography. Digital holography allows for direct computation of the phase field of the wavefront scattered by an object. A tuning of the light source optical frequency results in linear phase variation with respect to the optical frequency. Slope of the linear function in every single pixel corresponds to absolute measurement of optical path difference and thus topography map of the surface can be retrieved. Principle of this contactless method is introduced and experimentally verified. The method can be used for measurement of complex geometries of common manufacturing parts as well as for topography measurement of complex composite structures, and active acoustic metasurfaces.
    PracovištěÚstav fyziky plazmatu
    KontaktVladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975
    Rok sběru2020
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.