Absolute and relative surface profile interferometry using multiple frequency-scanned lasers

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0469283
Název	Absolute and relative surface profile interferometry using multiple frequency-scanned lasers
Tvůrce(i)	Peca, M. (CZ) Psota, Pavel (UFP-V) [TOPTEC]_{RID, ORCID} Vojtíšek, Petr (UFP-V) [TOPTEC]_RID Lédl, Vít (UFP-V) [TOPTEC]_RID
Zdroj.dok.	Proceedings of SPIE 10151, Optics and Measurement International Conference 2016, OAM 2016 Proceedings, 10151. - Bellingham : SPIE, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 2016 / Kovačičinová J.
Konference	OAM 2016, Optics and Measurement International Conference 2016, 11.10.2016 - 14.10.2016, Liberec
Číslo článku	101510H
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	TA03010893 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UFP-V - RVO:61389021
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	Absolute interferometry * diode laser * surface prole * length measurement
URL	http://dx.doi.org/10.1117/12.2263656
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0267095

Počet záznamů: 1