Počet záznamů: 1
Characterization of thin MnSi and MnGe Layers Prepared by Reactive UV Pulsed Laser Deposition.
- 1.KOŠTEJN, Martin, FAJGAR, Radek, DYTRYCH, Pavel, KUPČÍK, Jaroslav, DŘÍNEK, Vladislav, JANDOVÁ, Věra, HUBER, Š., NOVOTNÝ, F. Characterization of thin MnSi and MnGe Layers Prepared by Reactive UV Pulsed Laser Deposition. Thin Solid Films. 2016, 619(NOV 30), 73-80. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2016.10.035
Počet záznamů: 1