0460211 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Difraction in a scanning electron microscopie.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Web výsledku:
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260343